上海卓晶半导体科技有限公司 main business:半导体的研发，计算机软、硬件的开发、销售，电子产品、通讯产品、电子设备的开发、生产、销售，网络技术的开发、设计，相关技术咨询、技术服务，从事货物与技术的进出口业务。【&#yfpz】 and other products. Company respected "practical, hard work, responsibility" spirit of enterprise, and to integrity, win-win, creating business ideas, to create a good business environment, with a new management model, perfect technology, attentive service, excellent quality of basic survival, we always adhere to customer first intentions to serve customers, persist in using their services to impress clients.
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- 913100005696164593
- 存续（在营、开业、在册）
- 有限责任公司
- 2011年2月25日
- 刘志强
- 1000万人民币
- 至 永久
- 自贸试验区分局
- 2011年2月25日
- 中国（上海）自由贸易试验区李时珍路396号2幢208－209室
- 半导体的研发，计算机软、硬件的开发、销售，电子产品、通讯产品、电子设备的开发、生产、销售，网络技术的开发、设计，相关技术咨询、技术服务，从事货物与技术的进出口业务。【&#yfpz】
| 序号 | 公布号 | 发明名称 | 公布日期 | 摘要 |
| 1 | CN103367222B | 一种多片盒升降旋转系统 | 2016.08.17 | 本发明一种多片盒升降系统，其特征在于，包括：旋转机构，所述旋转机构由旋转驱动装置驱动；若干升降机构， |
| 2 | CN103367222A | 一种多片盒升降旋转系统 | 2013.10.23 | 本发明一种多片盒升降系统，其特征在于，包括：旋转机构，所述旋转机构由旋转驱动装置驱动；若干升降机构， |
| 3 | CN102288119B | 自动检测基片平整度和厚度并对基片进行分选的装置 | 2012.11.07 | 本发明为一种自动检测基片平整度和厚度并对基片进行分选的装置。它包括底座、工作台、承片台、片盒机构、机 |
| 4 | CN202389946U | 5片盒整体传输结构 | 2012.08.22 | 本实用新型提供一种5片盒整体传输结构，包括机架，其特征在于还包括扫描工作台，设置在所述机架的一端，所 |
| 5 | CN202230985U | 4片盒单体传输结构 | 2012.05.23 | 本实用新型提供一种4片盒单体传输结构，包括机架，其特征在于：4个片盒升降单元，设置在所述机架的一端； |
| 6 | CN202229742U | 膜厚检测探头结构 | 2012.05.23 | 本实用新型公开了一种膜厚检测探头结构，包括一工作台，其中，所述工作台的正上方设有一垂直设置的超声波探 |
| 7 | CN202230986U | 6片盒分体传输结构 | 2012.05.23 | 本实用新型提供一种6片盒分体传输结构，包括机架，其特征在于：扫描工作台，设置在所述机架的一端，所述扫 |
| 8 | CN202221303U | 扫描工作台结构 | 2012.05.16 | 本实用新型提供一种扫描工作台结构，包括大理石平台，第一向导轨，固定在所述大理石平台上，所述第一向导轨 |
| 9 | CN202221299U | 整体导轨结构扫描工作台 | 2012.05.16 | 本实用新型提供一种整体导轨结构扫描工作台，包括机台，其中，一中溜板，固定在所述机台上，所述中溜板上设 |
| 10 | CN202221300U | 气浮扫描工作台 | 2012.05.16 | 本实用新型提供种气浮扫描工作台，包括大理石，其特征在于：还包括承片台，固定在所述大理石上；平面双刚性 |
| 11 | CN202221413U | 基片缺陷和污染检测探头结构 | 2012.05.16 | 本实用新型公开了一种基片缺陷和污染检测探头结构，包括一工作台，其中，所述工作台水平设于一平台上，所述 |
| 12 | CN202221301U | 基片平整度检测探头结构 | 2012.05.16 | 本实用新型公开了一种基片平整度检测探头结构，包括一工作台，其中，所述工作台水平设于一平台上，所述工作 |
| 13 | CN102288138A | 半导体基片自动测试设备 | 2011.12.21 | 本发明为一种半导体基片自动测试设备，包括主控计算机、伺服驱动系统、机械手、X向工作台、Y向工作台、测 |
| 14 | CN102288119A | 自动检测基片平整度和厚度并对基片进行分选的装置 | 2011.12.21 | 本发明为一种自动检测基片平整度和厚度并对基片进行分选的装置。它包括底座、工作台、承片台、片盒机构、机 |
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